Main Products：
NEC infrared thermal imager, PCB acceleration sensor, high pixel infrared imager, dynamic data acquisition instrument, woodworking laboratory, PCB sensor, wire rope detector, handheld XRF spectrometer, infrared detection service, wire rope nondestructive testing, wire rope flaw detection service, wire rope lubricator, MIKRON blackbody calibration source, IMPAC infrared thermometer.
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-
Opterro光纖測量系統
QF Series High Temperature Strain Gauge
Introduce：
Shanghai Pu Chuang Technology Co., Ltd. is mainly committed to the sales of "QF series high temperature strain gauge.
Detail：
TML東京測器 QF系列高溫應變片
高溫應變片QF系列是采用聚酰亞胺樹脂基片的箔式應變片。使用常溫固化型粘合膠NP-50，可以很簡單地進行高溫測量。除了一般用，還有應力集中測量，扭矩測量專用的特殊應變片。
ZF系列高溫用應變片
EF系列高溫用應變片
被測物材料 |
金屬、陶瓷 |
基片 |
聚酰亞胺 |
|---|---|---|---|
使用溫度范圍 (°C) |
-20 ~ +200°C |
敏感柵 |
銅鎳箔 |
溫度補償范圍 (°C) |
+10 ~ +100°C |
應變極限 （室溫） |
3% （30000×10-6應變） |
主要適用粘合膠 |
NP-50B、CN、C-1 |
疲勞壽命 （室溫） |
1×106 （±1500×10-6應變） |
| 高溫應變片ZF系列是采用聚酰亞胺樹脂基片的箔式應變片。使用鎳鎘合金箔敏感柵，以及本公司開創的特殊柵格形狀，大大改善了高溫時特有的蠕變現象。 |
被測物材料 |
金屬、陶瓷 |
基片 |
聚酰亞胺 |
|---|---|---|---|
使用溫度范圍 (°C) |
-20 ~ +300°C |
敏感柵 |
鎳鎘合金箔 |
溫度補償范圍 (°C) |
+10 ~ +100°C |
應變極限 （室溫） |
1% （10000×10-6應變） |
主要適用粘合膠 |
NP-50B、 CN、C-1 |
疲勞壽命 （室溫） |
1×106 （±1500×10-6應變） |
 | 采用聚酰亞胺樹脂基片的高溫應變片。作為測量印刷電路板等零部件的機械特性而設計的超小型應變片。單軸應變片的使用溫度高于2軸、3軸應變花，高溫可達+300°C；對于雙軸和三軸應變片，高溫使用溫度為+200°C。兩種應變片的低使用溫度均為?196°C。 |
被測物材料 |
金屬、復合材料 |
基片 |
聚酰亞胺 |
|---|---|---|---|
使用溫度范圍 (°C) |
EFLK/EFLX： -196 ~ +300°C EFCA/EFRA： -196 ~ +200°C |
敏感柵 |
鎳鉻 |
溫度補償范圍 (°C) |
EFLK/EFLX： +10 ~ +150°C EFCA/EFRA： 0 ~ +150°C |
應變極限 （室溫） | 1%
|
主要適用粘合膠 |
CN、EB-2、 C-1、NP-50B |
疲勞壽命 （室溫） |
1×106 （±1500×10-6應變） |
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